8. BIBLIOGRAFIA
1. Zias A.R. , Hare W.F.J.: Integration brings a generation of low cost transducers. Electronics, vol 45, no 25, 1972, pp. 83-88
2. Bryzek J.: Wpływ temperatury na właściwości przetworników wielkości nieelektrycznych. Archiwum Elektrotechniki /w druku/
3. Fischler A.S., Collins J.A.: Self compensating silicon load cell with on electronic converter. IEEE Transaction an Electron Devices, vol. ED-16, no 10, 1969
4. Dorsey J.: N-type self-compensating strain gages. Experimental Mechanics, vol. 5, no 9, 1965, pp 27A-38A
5. Watanabe O. i inni: Germanium film strain gauge with self compensation of temperature. Electrical Engineering in Japan, vol 87, no 2, 1969 pp 101-112.
6. Jackon J.S. i inni: Temperature compensated strain gauge for biomedical instrumentation. IEEE Region 3 Convention 1967 Proceedings, 1967, pp 85-91
7. Joffe A.I.: Rasczet temperaturnoj pogresznosti differencjalno-transformatornych preobrazowatielej dawlenia. Izmieritielnaja Technika, nr 3, 1973, ss 31-33
8. Sychowicz E.: Metoda korekcji błędu temperaturowego tensometrów z folii konstantanowej. Rozprawa doktorska, Politechnika Warszawska, 1977
9. Frantzis N.: Semicondustor pressure diaphragm. Patent USA nr 3230763, 1966
10. Wu C.T. Temperature compensated gauge arrangement. Patent USA nr 3116469, 1963
11. Frayssinoux R.F.E.: Improvements in temperature compensated pressure gauges. Patent Wielkiej Brytanii nr 1008896, 1965.
12. Statham L.D.: Pressure gage with temperature compensation. Patent USA nr 2807167, 1957
13. Ruge A.C.: Temperature compensated strain gauge. Patent USA nr 2344642, 1944
14. Ruge A.C.: Temperature compensated gauge. Patent USA nr 2390038, 1944
15. Hines F.F.: Temperature compensated gage. Patent USA nr 2913691, 1958
16. Hines F.F.: Resistance strain gage. Patent USA, nr 2920298, 1960.
17. Elliott J.F.: Temperature Compensated semiconductor strain gage. Patent USA nr 3368179, 1968
18. Stedman C.K.: Arm type film bridge with minimal thermal zero shift. Patent USA nr 3303693, 1967
19. Levis E.T.: Piezoresistive bridge transducer. Patent USA nr 3820401, 1974
20. Rice J.H.: Temperature compensated high resolution pressure transducer based on capacitance change principle. Patent USA, nr 4016764, 1977
21. Poughkeepsie H.L.P. i inni: Temperature compensated semiconductor resistor. Patent USA nr 3248677, 1966
22. Bulfhuis K., i inni: Temperature compensated semiconductor resistor containing neutral inactive impurities. Patent USA nr 3683306, 1970
23. Beckman P.: Temperature compensated electrical strain gage. Patent USA nr 3158827, 1964
24. Russel J.D.: Apparatus for temperature compensation of strain gages. Patent USA nr 3324706, 1967
25. Bradley C.D.: Temperature compensator for hydraulic pressure devices. Patent USA nr 3178937, 1965
26. Schmertz J.C.: Temperature compensated springs. Patent USA nr 3176509, 1965.
27. de Forest A.V.: Electric strain device with temperature compensator. Patent USA nr 2458354, 1949
28. Lee S.Y., Li Y.T.: Temperature compensated transducer. Patent USA nr 3248936, 1966
29. Lee S.Y., Li Y.T.: Temperature compensated transducer. Patent USA nr 3199345, 1965
30. Forest A.V.: Electric strain gage temperature compensator. Patent USA nr 2458354, 1949
31. Bristol D.A.: Compensation system for differential pressure measuring device. Patent USA nr 3372594
32. Spencer W.H.: An improved transducer temperature-compensation technique. IEEE Transactions on Industrial Electronics and Control Instrumentation, vol IEC I-19, no 2, 1972, pp. 30-33
33. Bryzek J.: Półprzewodnikowe przetworniki ciśnienia systemu "Eftronik", Biuletyn Mera, nr 7/161, 1975, ss. 3 - 20
34. Mitchell J.: Solid State strain sensing for pressure transducer reliability. Control and Instrumentation, vol. 8, no 11, 1976, pp. 36 - 37
35. Keller H.W.: Piezoresistive Druckaufnehmer. Messen
- Prüfen Automatic, Feb. 1974, pp. 89-92, Marz 1974, pp. 157-160.
36. Bretschi J.: Mesumformer mit integrierten Halbleiter -DMS. Technisches Messen ATM, no 6, 1976, pp. 181 - 186.
37. Waganow W.I., Beklemiszew W.W.: Schiema temperaturnoj kompensacji integralnowo preobrazowatiela dawlenia Izmieritielnaja Technika, nr 6, 1977, ss. 62-63.
38. Hoffmann K.: Ursachen temperaturabhangiger Nullpunkts - und Empfindlich Keitsanderungen bei Dehnungsme streifen-Aufnehmern. VDI-Bericht, no 137, 1970, p. 24
39. Bailey S.J.: Diffused silicon pressure sensor have rugged on-line feature. Control Engineering, Sept. 1973, pp. 58-59
40. Demark A.M.: Semiconductor strain gauge amplifier. Patent USA nr 3654545, 1972
41. Davis R.E.: Improvements in or relating to temperature responsive circuits. Patent Wielkiej Brytanii nr 1117814, 1966
42. Zias S.A., Solomon J.: Semiconductor pressure transducer employing novel temperature compensation means. Patent USA nr 3836796, 1973
43. Billete R. J., Vennard J.: Semiconductor pressure transducer employing temperature compensation circuits and novel heater circuitry. Patent USA nr 3886799, 1975
44. Meissner H., Bolte E.: Druckmesvorrichtung. Patent RFN nr 1908633, 1969
45. Puczko M.: Temperature compensated fluid conductivity meters. Patent Wielkiej Brytanii nr 1082347, 1967
46. Drew D. A.: Transducer. Patent Wielkiej Brytanii nr 1008627, 1965
47. Briggs J. N.: Improvements in or relating to the determination of moisture content. Patent Wielkiej Brytanii nr 1114157, 1968
48. Martin J. C.: Silicon pressure transducer circuit. Patent USA nr 3646815, 1972
49. Eckerdt C.: Electrical compensation circuit arrangement. Patent Wielkiej Brytanii nr 1331200, 1971
50. Togo M., Takenchi N.: Temperature or other variable compensating system. Patent Wielkiej Brytanii nr 1419370, 1973
51. Yissum R.: Electric circuit. Patent Wielkiej Brytanii nr 1096020, 1967
52. Perry J. A.: Temperature error compensation. Patent USA nr 3099156, 1963
53. Ames J. E.: Strain gauge bridge calibration. Patent USA nr 3130578, 1961
54. Laimins E.: Strain gauge transducer circuit. Patent USA nr 3046782, 1962
55. Ames J. E.: Strain gauge compensation. Patent USA nr 3161045, 1961
56. Taszkinow G. D. i inni: Sposób temperaturnoj kompensacjii. Patent ZSRR nr 174401, 1971
57. Talmo R. E. i inni: Transducers. Patent Wielkiej Brytanii nr 1307047, 1972
58. Schlatter G. L.: Vibration densitometer apparatus with temperature compensation. Patent Wielkiej Brytanii nr 1423631, 1976
59. Pien H. S.: Compensated semiconductor strain transducers. Patent USA nr 3447362, 1969
60. Bell H. C.: Transducer device with temperature compensation. Patent Wielkiej Brytanii nr 1453078, 1976
61. Włodarski W., Bryzek J.: Sposób pomiaru ciśnienia hydrostatycznego oraz temperatury w obszarze działania ciśnienia hydrostatycznego za pomocą półprzewodnikowego złącza p-n oraz układ elektroniczny do stosowania tego sposobu. Patent PRL nr 72634, 1972
62. Bargen D. W.: Computing transducer system. Patent USA nr 3358511, 1967
63. Bargen D. W. i inni: Measuring and computing device and method Patent USA nr 3388597, 1968
64. Ames J. E.: A. C. apparatus temperature compensation. Patent USA nr 3463999.
65. Monomakhoff A.: Measuring bridge having a temperaturecompensating transistorized voltage shunting the power supply to the bridge. Patent USA nr 3634757, 1972
66. Seymour E. W.: Corrosion measuring bridge circuit having automatic controlled constant source of energy and temperature compensation Patent USA nr 3821642, 1974
67. Kushida T., Logothestis E. M.: Circuit for converting a temperature dependent input signal to a temperature independent output signal. Patent USA nr 4028642, 1977
68. Russell R. H.: Temperature compensated resistance measurement bridge. Patent USA nr 3490272, 1970
69. Curry T. M.: Temperature compensated strain gage and circuit. Patent USA nr 3290928, 1964
70. Billette R. J., Vennard J.: Semiconductor pressure transducer employing temperature compensation circuits and novel heater circuitry. Patent USA nr 3886799, 1975
71. Perino P. R.: Wheatstone bridge compensation circuits and transducer employing the same. Patent USA nr 3278834, 1966
72. Smith H. H.: Temperature compensation circuit for impedance bridges. Patent USA nr 3495159, 1970
73. Spencer W. H.: Temperature compensation circuit for sensor of physical variables such as temperature and pressure. Patent USA nr 3967188, 1976
74. Mc Ghee J. D.: Thermocouple reference junction compensating circuits. Patent USA nr 3461380, 1969
75. Pear C. B.: Temperature compensation for Hall effect devices. Patent USA nr 3320520, 1967
76. La Clair P. A.: Temperature compensation circuit for sensor of physical variables such as temperature and pressure. Patent USA nr 3831042
77. First D. J. i inni: Temperature compensated semiconductor strain gage unit. Patent USA nr 3245252, 1966
78. Langill A. W.: Digital computer compensation of strain gage data. Instruments Society of America Transactions, vol. 6, no 3, 1967, pp. 209-216
79. Peake E. R.: Solid-state digital pressure transducer. IEEE Transactions on Electron Devices, vol. ED-16, no 10, 1969, pp. 870-876.
80. Texas Instrument Digital quartz manometer operating manual, 1976
81. Bryzek J.: Nowa metoda kompensacji uchybów temperaturowych w przetwornikach wielkości nieelektrycznych. Archiwum Elektrotechniki /w druku/
82. Bryzek J.: Sposób kompensacji wpływu temperatury w elektrycznych czujnikach wielkości nieelektrycznych oraz układ do stosowania sposobu. Zgłoszenie patentowe nr P. 196115, 1977. /Zgłoszono również do opatentowania przez PHZ Polservice w USA, Wielkiej Brytanii, Kanadzie, RFN oraz KDL/.
83. Kudrewicz J.: Teoria aproksymacji. Poradnik inżyniera matematyka. WNT, Warszawa 1971, s. 1042
84. Bryzek J., Piskorski K., Dawidonis M., Astapczyk E., Tomaszewski K., Szewczyk J.: Czujnik ciśnienia. Zgłoszenie patentowe nr P. 196657, 1977
85. Benjamin J. R., Cornell C. A.: Rachunek prawdopodobieństwa. Statystyka matematyczna i rachunek decyzji dla inżynierów. WNT, Warszawa 1977
86. Zieliński R.: Tablice statystyczne. PWN, Warszawa 1972
87. Bryzek J., Dawidonis M., Nowicki W.: Wzmacniacz pomiarowy przetwornika zwłaszcza międzysystemowego. Zgłoszenie patentowe nr P. 198717, 1977
88. Dawidonis M., Bryzek J.: Sposób kompensacji temperaturowej elektronicznych przetworników pomiarowych. Zgłoszenie patentowe nr P. 198718, 1977
89. Protokół Badań nr 28/KJB/77 Laboratorium Badań Wyrobów Działu Kontroli Jakości Przedsiębiorstwa Automatyki Przemysłowej Mera- -Pnefal, marzec-kwiecień 1977.